逆向工程技術與系統（05653）
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- 作者： 章 明、姚宏宗、鄭正元 、 林宸生、姚文隆 追蹤 ? 追蹤作者後，您會在第一時間收到作者新書通知。
- 出版社： 全華 追蹤 ? 追蹤出版社後，您會在第一時間收到出版社新書通知。
- 出版日：2005/12/29
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內容簡介
本書內容共計分為六章，第一章為緒論，簡單介紹逆向工程與自動化光學檢視技術重點，第二章介紹光學量測技術系統會使用到的各種基本元件，第三章介紹二維量測技術及其應用，第四章介紹三維量測技術及其應用，第五章介紹量測資料的後處理技術，第六章則為處理後資料的快速成型技術及系統，本書較一般逆向工程書籍更具廣度與深度，務求讀者能透過本書與其他相近系列書籍的融會貫通。
■ 本書優點特色
1.涵蓋目前最熱門之逆向工程及自動化光學檢測(AOI) 領域所需之技術與知識。
2.由元件至系統、由2D到3D量測技術、由量測數據軟體處理技術至快速成型技術等，均有完整介紹。
3.深淺適中，除理論建構解說詳盡外，均配合列入實際案例說明，為目前相關領域技術介紹最完整之書籍。
4.配合產業需求製作，為技職院校與綜合大學機械相關科系與光機電整合研究所應必備之基礎知識。
目錄
第1章 概 論
1-1 逆向工程緒論
1-2 逆向工程系統介紹
1-3 逆向工程量測系統
1-4 量測系統之優缺點比較
1-5 曲面重建
1-6 CAD/CAM快速成型技術簡介
1-7 快速成型之製程簡介
1-8 模型建構與分析系統流程簡介
第2章 光電量測元件
2-1 影像感測元件
2-1-1 影像感測元件常用基本名詞
2-1-2 影像感測器結構
2-1-3 影像感測器分類
2-2 影像擷取系統
2-2-1 鏡頭
2-2-2 影像擷取裝置
2-2-3 影像擷取卡
2-3 光源
2-3-1 非同調性光源
2-3-2 部份同調性光源
2-3-3 高同調性光源
2-3-4 光源架設
2-4 其他光學元件
2-4-1 光柵
2-4-2 光學尺
2-4-3 濾光片
習題
第3章 影像處理技術與二維量測
3-1 影像處理之原理
3-1-1 灰階值
3-1-2 灰階亮度統計圖
3-2 灰階亮度統計參數
3-3 基本點素運算
3-4 空間運算
3-5 轉換運算
3-6 鍊碼
3-7 背光板光場自動視覺檢測分析
3-7-1 背光板光場檢測介紹
3-7-2 導光板與背光板影像亮度分析
3-7-3 被加工材料表面品質之探討
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